试验与分析术语
ANOVA
ANOVA 代表“方差分析”(Analysis of Variance)，这是一种用于确定可变性来源的方法。人们在工业中广泛采用此方法，来帮助在生产过程中确定潜在问题的来源，并确定所测输出值中的偏差是源于各种制造过程之间的可变性，还是源于它们内部的可变性。通过以预定模式来改变因子并对输出进行分析，我们可以利用统计方法，来对制造过程中导致偏差产生的原因做出准确评估。
Competing failure modes
一种模型，在其中，可将由一种以上失效模式导致失效的产品，描绘成一个串联可靠性系统，系统中每个模块代表一种失效模式。可以认为这些失效模式彼此间相互“竞争”，并看哪一种会导致产品失效。
Contour plot
对似然比方程可能解的图解表示。它可用来确定置信区间，以及比较两个不同的数据集。
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Degradation analysis
一种分析过程，有些退化或性能数据，可能与所考虑产品的假定失效直接相关，该分析便对此类数据进行量度和外推。利用退化分析，用户可度量随时间发生的退化或性能变化，进而根据度量结果外推求出假设的失效时间。
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Importance measure
组件对整个系统可靠性的相对贡献的量度。组件的重要性量度，等于组件可靠性关于系统可靠性的一阶偏导。
Life data analysis
失效与使用量数据的统计分析，通过执行它，我们可为产品的可靠性及失效特性建立数学模型。
Monte Carlo simulation
为实验目的由已知分布生成数值的方法。若要完成此过程，可以生成均匀随机变量，并将它们用于逆可靠性方程中，以产生符合所需输入分布的失效时间。
Nonparametric analysis
一种分析方法，通过利用它，用户可在不假设基础失效分布的情况下来表征失效数据。这可避免因分布假设错误而导致的潜在严重错误。但是，与非参数分析有关的置信区间，通常远宽于通过参数分析计算出的置信区间。此外，在观察范围之外进行预测也是不可能的。
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Plotting paper
请见“概率图坐标纸”（see Probability plotting paper） 。
Probability plot
一类使分布 Cdf 线性化的图形，通过利用它，用户可手动绘制“失效时间-不可靠性估计值”图。只要绘制的点大致落在一条直线上（因而表明所选分布实现良好拟合），就可以从图形上获取参数估计值。这是一种粗略的、费时的失效数据分布拟合方法，但在计算机得到广泛应用之前，它实际上是唯一可用的方法。
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Probability plotting paper
一类专门设计的坐标纸，用户可在上面按线性函数绘制“失效时间-不可靠性”图。坐标纸的样式因分布而不同。若要获取利用 ReliaSoft 软件生成的坐标纸，请在线访问 http://www.weibull.com/GPaper/index.htm
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Reliability test design
设计可靠性试验计划的过程。
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Reliability testing
对单元进行试验直到发生失效，以便获取用于寿命数据分析的原始失效时间数据。
Sequential testing
一种试验方法，它对试验单元按顺序进行试验，而不是同时进行试验。
Spares provisioning
根据给定任务或操作期间的预期失效数进行的备用单元或组件存储。
SPRT
SPRT 代表“序贯概率比试验”(Sequential Probability Ratio Test)。这是一类接受/拒绝序贯试验，在试验中，由用户来限定边界，并按顺序对单元进行试验，直至达到接受边界和拒绝边界中的任意一个，然后制定关于单元适合性的决策。
Stress-strength interference
一种失效概率计算方法，它通过叠加产品的强度分布与正常使用应力分布，来计算产品的失效概率。
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Warranty analysis
对返修及返回数据进行的分析，目的是确定产品的可靠性特征。