| 背景
某电子元件的加速应力为温度。预期的可靠性目标为在温度300K时、置信水平达到90%。为节省时间和财力,生产设计此加速寿命实验,期望在较短的时间内得到预期的可靠性结果。
实验和数据
分别在温度值为353K、373K和393K时采样,进行加速寿命实验。time-to-failure和time-to-suspension
数据记录如下。
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Table 1 |
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Stress Level
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Observed Failures
(hr) |
Observed Suspensions
(hr) |
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353K |
245 |
250, 250, 250, 250, 250 |
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373K |
110, 180, 200 |
250, 250, 250 |
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393K |
50, 70, 88, 112, 140, 160 |
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分析
Step 1: 首先创建数据输入表,行为time-to-failure和
time-to-suspension数据,列为温度值( K)。分析时将Arrhenius模型和Weibull分布结合使用。结果如Figure
1所示。
Step 2: 参数计算完毕,就可以创建曲线和报表了。ALTA 6 和 ALTA
6 PRO 提供了丰富的曲线和报表类型。
B(10)寿命:
90%单测置信以下的B(10)寿命为1160, 高于90%则需为1000。 快速计算板可以计算制定置信限的B(10)寿命。Figure
2。
B(10)寿命也可通过图形得出。 Figure 3。
激活能量:经分析,激活能量为0.4653,显示在结果面板中,用缩写"Ea"表示,如Figure
4。
| Figure
4 |
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加速因子曲线:
Figure 5所示。
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